精密仪器之X射线荧光光谱仪

简介：X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。使用型态：XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，

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日本理学波长色散X射线荧光光谱仪无法开启X射线的解决方法

广州仪德专业代理日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪，本次文章主要分享理学中其中一款X射线荧光光谱仪在开启X射线管时出现下述故障现象?故障现象:无法开启X射线?错误级别:失败发生部件:XG发生器错误原因:与XG发生器通讯控制出错错误代码:11错误及产生原因:X射线发生器没有初始化,所以不能够控制XG?维护信息:关闭ZSX软件,并重新启动初始化。解决办法1、按照仪器给出的维护信息,关闭ZSX应用软件,关掉主机,过5分钟后,重新开启X荧光仪,ZSX应用软件正常运行,X荧光仪主机正常初始化,仪器状态正常?开启X-ray时,

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ZSX PrimusⅡX射线发生器故障的排除

广州仪德公司专业代理日本理学ZSXPrimusⅡ型波长色散X荧光光谱仪，今天分享ZSX PrimusⅡ波长色散X荧光光谱仪在使用过程中频繁出现X射线发生器发生异常状态故障现象及故障处理，其错误级别:失败，出错部位:X射线发生器，错误内容:X射线发生器异常状态，错误代码:23?（故障记录如下图片所示）故障处理1、首先排除光管散热差造成的故障?清洁二次水(内循环水)过滤器滤芯，恢复后，流量有所改善(3.75L/min-3.80L/min)，但是故障依然?2、补足二次水(内循环水)水箱，并调节其水压由0.32MPa-0.

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ZSXPrimusII波长色散X射线荧光光谱仪特点介绍

广州仪德公司专业代理日本理学波长色散X射线荧光光谱仪?，在理学光谱上得到广泛用户的好评与支持，日本理学波长色散光谱仪应用非常的广泛：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。同时检测材料状态也比较比样性：粉末样品、块状样品、液体样品。

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理学ZSX PrimusⅡ波长色散X射线荧光光谱仪对矿石测定方法

日本理学ZSX PrimusⅡ型X射线荧光光谱分析仪，该仪器为上照式端窗型单道扫描仪，配备LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五块晶体，性能优越，高精密度以及低检出限，可测试从N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

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什么是波长色散x射线荧光光谱仪？

波长色散x射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高，样品制备简单。X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。色散型又分为波长色散型和能量色散型。波长色散型XRF光谱仪由X射线管激发源，分

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日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对项目检定操作实例

多数操作人员对日本理学波长色散X射线荧光光谱仪检定规程可能不大清楚或者并没有具体的操作，仪德公司分享采用日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对项目检定方法操作实例，方便广大用户进行学习，本方法来源于网络数据供参考用，不做商业用。检定项目操作实例以日本理学X射线荧光光谱仪为例，以表1为技术指标，进行分析测试。1、精密度测试精密度以12次连续重复测量的相对标准偏差RSD表示。每次测量都必须改变机械设置条件，包括晶体、计数器、准直器、2θ角度、滤波片、衰减器和样品转台位置等。上式中：s——n次测量的标

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波长色散X射线荧光光谱仪环境条件与技术指标（分享版）

根据JJG810-1993中华人民共和国国家计量检定规程《波长色散X射线荧光光谱仪》，对仪器进行检定/校准，在确保各项指标合格的前提下，仪器方可投入使用。本文对检定中涉及的指标进行具体实验分析统计，给出详细的统计结果。并对检定的项目进行了探讨，为下一步检定规程的修订提供了建议。波长色散X射线荧光光谱仪检定规程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射线荧光光谱仪已经进行了飞速的发展，如今的波长色散X射线荧光光谱仪器已经发展到了波谱、能谱和微区扫描三者相结合的大型仪器，具备了更优异的检测性能和新增了扫描性能，并且随着国

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一分钟掌握波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的原理结构

多数人到现在还不清楚如何的区分波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型光谱仪的之间的区别到底有哪一些不一样的，本文中使用表格的形式简单的介绍两者之间的原理结构，一分钟快速掌握其中的奥秘。项目波长色散型能量色散型原理X荧光经晶体分光，在不同行射角测量不同元素的特征线X荧光直接进入检测器，经电子学系统处理得到不同元素(不同能量)的X荧光能谱结构为满足全波段需要，配置多块晶体，根据单道扫描和多道同时测定的需要，设置扫描机构和若干固定通道无扫描机构，只用一个检测器和多道脉冲分析器，结构简单得多，无转动件，可靠性高X-光管高功

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波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪两款产品的区别

日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪两款产品各有独自的优势，针对不同类的样品检测各有着长处之处，波长色散型X荧光光谱仪在分析上有着很高的精确度和精密度，能量色散型多数用去牌号的快速检测和筛选。下面从这两款光谱仪的原理与功能介绍它们之间的存的区别有哪些。

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日本理学波长色散型荧光光谱仪四大优势特点

日本理学波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在-一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要大,一般为2~3千瓦。但X射线管的效率极低，只有1%的电功率转化为X射线辐射功率,大部分电能均转化为热能产生高温,所以X射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷)，因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。

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ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪探测器故障问题

ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪在使用过程上假如出现了PC探测器的PHA调节不能正常进行怎么处理，广州市仪德科学仪器有限公司工程师教你一招，自己也可以进行故障排除。故障现象：进行PHA日常调节时，PC探测器微分曲线谱峰太低，严重变形，无法计算分辨率、“错误内容”提示“因为脉高微分曲线的谱峰太低，所以不能进行PHA调节”，“维护信息”显示：“可能使用了错误的PHA调节样品，或者PHA调节的条件设置错误”。

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ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪中X光管故障解决问题

ZSX Primus Ⅱ 波长色散型X射线荧光光谱仪在检测过程中由于不正确的使用或者没有定期的进行维护保养，容易造成机器的故障，下面跟大家分享ZSX Primus系列中二代波长色散型X射线荧光光谱仪在分析中出现X光管故障的现象、产生的原因与最终解决的二种方法。第一故障现象：正常使用过程中，X光管忽然关闭。“错误内容”提示“X射线发生器发生异常”，“维护信息”显示：“探测到X射线发生器有异常情况”。原因分析：X射线发生器本

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ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪解决初始化无法进行两种方法

进口ZSX Primus Ⅱ色散型X射线荧光光谱仪是日本理学推出的波长荧光光谱仪，性能先进，操作方便，已 广泛应用于地质、钢铁、冶炼、医药等多领域。但在实际使用过程中有时会出现这样那样的故障，影响正 常测试工作的及时性和测试结果的准确性，文章针对ZSX Primus Ⅱ波长色散型X射线荧光光谱仪的初始化无法进行的两个常见的故障现象进行介绍，介绍故障出现的问题、原因分析及解决方法，希望对大家有所帮助。初始化无法进行故障一故障现象：安装新光管后主机与计算机不能连接，也没有错误信息提示。原因分析：错误现象表明计算机系统探

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Supermini200 波长色散型台式X射线荧光光谱仪检测范围

理学多年的积累研制的Supermini200 小型波长色散型仪器， 由高性能的硬件和最新软件的完美结合，使得台式机具有高精度、高稳定的机能。Supermini200 波长色散型台式X射线荧光光谱仪检测性能非常的高，同一个画面上的分析、测量、结果确认操作简单。Supermini200还配置了高功率200W的Pd靶陶瓷管，能够进行高灵敏度的分析。Supermini200波长色散型X射线荧光光谱仪能快速解决各行业元素分析检测问题，大大提高工作效率。下面简单介绍其中部分分析应用：部分应用1、含有稀土类重元素等氧化物的定性分

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波长色散型XRF-ZSX Primus系列X射线荧光光谱仪应用

随着用户的需要也变得先进和多样化，理学集团长年以来的技术研发、工艺技巧、分析方法之精髓汇集于一体，不断满足用户不断改变的需求，理学集团研发了先进的XRF-ZSX Primus系列在各大行业中被广泛的应用。其中XRF-ZSX Primus/III+/IV 波长色散型X射线荧光光谱仪在技术上更加的先进，下面为大家简单介绍波长色散型X射线荧光光谱仪在部分领域中的应用。部分应用1、铁矿石分析 ASTM C114粉状硅酸盐水泥分析2、熔片法岩石分析3、FeCoNi合金元素分析4、低合金钢、不锈钢中Si,Mn,P,S,Ni,C

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波长色散X射线荧光光谱仪的新进展

X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的首选方法之一。X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）,从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能量色散型两种，适用于测定铍 (Be)以上的化学元素的含量。它的优点是不破坏样品，分析速度快，分析精度高，样品制备简单。X射线荧光光谱仪还可以用于微区分析及确定分层和涂层的厚度和成分。X-射线与物质的交换XRF荧光光谱仪是可以

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波长色散X射线荧光光谱仪

来源：分析测试百科网我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看，依然是建立在布拉格定律基础之上，但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹，可总结出如下特点 。(1) 现代控制技术的应用使仪器精度大幅度提升。WDXRF谱仪在制造过程中，从20世纪80年代起，一些机械部件为电子线路所取代，电子线路又进而被软件所取代。如一些仪器制造商分别用无齿轮莫尔条纹测角仪和激光定位光学传感器驱动测角仪，取代传统θ/2θ齿轮机械运动的测角仪，2θ扫描精度也由齿轮机械运动的±0.001&d

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X荧光光谱仪测试的方法和要点

X荧光光谱仪总而言之，建立适合用户的标准样品库，才能将X射线荧光光谱仪的效能发挥到极致，虽然前期要做许多工作，例如收集样品，样品分析，标准样品制备等工作，但“磨刀不误砍柴工”。建立好自己面向应用的标准样品库，可以让自己的检测做到事半功倍的效果。一、X荧光光谱仪测试方法：　　1、X荧光光谱仪样品制备进行x射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误筹；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同；

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测矿石用的是哪种光谱

测矿石一般可用X射线荧光光谱仪! 现场测的可以有手持式光谱仪。实验室可用台式荧光光谱仪。

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