日本理学波长X射线荧光光谱仪对岩石样品的定点分析及面扫描分析

广州仪德公司专业销售日本理学波谱，波谱不限于材料的形状，应用多领域金属元素的测定分析。本文章简单介绍日本理学ZSXPrimusⅣ波长X射线荧光光谱仪对岩石样品的定点分析及面扫描分析，为矿石领域对岩石测定分析提供宝贵经验。使用仪器分析室内置的相机将岩石样品中需要关注的测量范围放大后进行了分析。红框内扩大了的范围由右图表示。可以更精密地指定测量位置。面扫3描分析结果微区测绘测绘数据的测绘视图统合为以摄像图和数据(图、测量数据)来表示。图示种类有不同模式，可以采用有效的图示。各测量点的Mg-Kα的谱线比较SQX方法做的定

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理学ZSX PrimusIV波长色散X射线光谱仪特点

广州仪德专业代理日本理学ZSX PrimusIV波长色散X射线光谱仪，波长色散型光谱仪可解决多种不同类型样品金属元素分析，有效快速帮助各类行加工、生产。本文章分享ZSX PrimusIV波长色散X射线光谱仪这款设备的特点。硬件最安全、软件最安心、维护最方便万一的失误导致仪器损坏令人十分痛心。高性能的精密分析仪器ZSXPrimusIV设计为即便粉末样品发生粉末飞散也不会损坏仪器的上照射方式。在软件上也设计为防止操作失误的用户分级管理方式。即便粉末样品松散下落也不会污染光学系统-上照射方式因为采用上照射方式粉末压片样品

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精密仪器之X射线荧光光谱仪

简介：X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。使用型态：XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，

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日本理学波长色散X射线荧光光谱仪无法开启X射线的解决方法

广州仪德专业代理日本理学波长色散型X射线荧光光谱仪，本次文章主要分享理学中其中一款X射线荧光光谱仪在开启X射线管时出现下述故障现象?故障现象:无法开启X射线?错误级别:失败发生部件:XG发生器错误原因:与XG发生器通讯控制出错错误代码:11错误及产生原因:X射线发生器没有初始化,所以不能够控制XG?维护信息:关闭ZSX软件,并重新启动初始化。解决办法1、按照仪器给出的维护信息,关闭ZSX应用软件,关掉主机,过5分钟后,重新开启X荧光仪,ZSX应用软件正常运行,X荧光仪主机正常初始化,仪器状态正常?开启X-ray时,

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ZSX PrimusⅡX射线发生器故障的排除

广州仪德公司专业代理日本理学ZSXPrimusⅡ型波长色散X荧光光谱仪，今天分享ZSX PrimusⅡ波长色散X荧光光谱仪在使用过程中频繁出现X射线发生器发生异常状态故障现象及故障处理，其错误级别:失败，出错部位:X射线发生器，错误内容:X射线发生器异常状态，错误代码:23?（故障记录如下图片所示）故障处理1、首先排除光管散热差造成的故障?清洁二次水(内循环水)过滤器滤芯，恢复后，流量有所改善(3.75L/min-3.80L/min)，但是故障依然?2、补足二次水(内循环水)水箱，并调节其水压由0.32MPa-0.

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ZSXPrimusII波长色散X射线荧光光谱仪特点介绍

广州仪德公司专业代理日本理学波长色散X射线荧光光谱仪?，在理学光谱上得到广泛用户的好评与支持，日本理学波长色散光谱仪应用非常的广泛：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。同时检测材料状态也比较比样性：粉末样品、块状样品、液体样品。

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理学ZSX PrimusⅡ波长色散X射线荧光光谱仪对矿石测定方法

日本理学ZSX PrimusⅡ型X射线荧光光谱分析仪，该仪器为上照式端窗型单道扫描仪，配备LiF200、PeT、Ge、RX25、RX45共五块晶体，性能优越，高精密度以及低检出限，可测试从N~U的的所有元素的定量分析和半定量分析。

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什么是波长色散x射线荧光光谱仪？

波长色散x射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高，样品制备简单。X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。色散型又分为波长色散型和能量色散型。波长色散型XRF光谱仪由X射线管激发源，分

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日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对项目检定操作实例

多数操作人员对日本理学波长色散X射线荧光光谱仪检定规程可能不大清楚或者并没有具体的操作，仪德公司分享采用日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对项目检定方法操作实例，方便广大用户进行学习，本方法来源于网络数据供参考用，不做商业用。检定项目操作实例以日本理学X射线荧光光谱仪为例，以表1为技术指标，进行分析测试。1、精密度测试精密度以12次连续重复测量的相对标准偏差RSD表示。每次测量都必须改变机械设置条件，包括晶体、计数器、准直器、2θ角度、滤波片、衰减器和样品转台位置等。上式中：s——n次测量的标

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波长色散X射线荧光光谱仪环境条件与技术指标（分享版）

根据JJG810-1993中华人民共和国国家计量检定规程《波长色散X射线荧光光谱仪》，对仪器进行检定/校准，在确保各项指标合格的前提下，仪器方可投入使用。本文对检定中涉及的指标进行具体实验分析统计，给出详细的统计结果。并对检定的项目进行了探讨，为下一步检定规程的修订提供了建议。波长色散X射线荧光光谱仪检定规程1993年的版本一直沿用至今天，但是X射线荧光光谱仪已经进行了飞速的发展，如今的波长色散X射线荧光光谱仪器已经发展到了波谱、能谱和微区扫描三者相结合的大型仪器，具备了更优异的检测性能和新增了扫描性能，并且随着国

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金属分析光谱仪维护案例

回访德国斯派克金属分析光谱仪用户，维护工作。

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移动式光谱仪模具钢厂测样现场

今天带着移动光谱仪到模具钢厂测样，下面是相亲图片与数据。数据非常的稳定！

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春季直读光谱仪该如何保养？

春季来了，南方地区到了回南天的日子，温、湿度过大会对直读光谱仪有哪些影响呢？1.超常的温、湿度是导致仪器锈蚀，霉变和老化的主要原因。要做好仪器室的通风排气作业。平时要使用自然通风调理室内温、湿度(如高温季节或旱季，室外温度或湿度高于室内时，要关好门窗;反之，室外温度或湿度低于室内时，要打开门窗，进行调理)，使用好冷热功能的空调做好控温湿度的工作。寄存精密仪器的实验必须配备抽湿机；光谱标样、光学镜片配件应放在玻璃容器内要放置干燥剂，(如氯化钙、硅胶等)并要定期更换或除湿。因此，要恰当调理仪器保管室内的温、湿度，使其坚

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2020 新品|德国斯派克SPECTROMAXx (iCAL2.0技术)火花直读光谱仪

德国斯派克分析仪器公司（SPECTRO）推出了第八代SPECTROMAXx (iCAL 2.0智能标准化)火花直读光谱仪，着重在仪器功能和性能方面进行了改进与创新，以满足精确的材料控制和铸造行业快速、精确的元素分析要求。

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惠州塔牌水泥厂手持式光谱仪安装成功案例

惠州塔牌水泥厂手持式光谱仪安装成功.主要是用来检测金属材料，更好的发现问题解决问题！

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SPECTRUMA GDA-650HR辉光光谱仪-DFG技术中心安装记录

表面深度分布及元素含量分析的重要手段(GD-OES)—材料实验室研究级、高分辨率辉光放电光谱仪-德国SPECTRUMA GDA650HR正式落户DFG技术中心。SPECTRUMA GDA650HR汽车车身及部件的损坏主要有事故损坏、磨损损坏、腐蚀损坏等三种形式，其中腐蚀损坏最为严重。汽车上所使用的材料主要以金属材料为主，金属材料普遍存在着腐蚀问题。汽车零部件金属表面腐蚀不仅破坏汽车的外观，还直接影响汽车的使用寿命，同时带来了环境的污染，事故的发生以及材料和能源的浪费。?为此，每一辆汽车成品的出厂都需经过

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SPECTROLAB S直读光谱仪-富士和安装记录

高端金属分析的真正革命    ——世界首台CMOS探测器（互补金属氧化物）的直读光谱仪正式安装日前，富士和机械工业（湖北）有限公司安装了第一台CMOS探测器的德国斯派克SPECTROLAB直读光谱仪，为该司熔炼铸造工艺保驾护航。                                 

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国内首台直读光谱仪 LAB S安装成功案例

德国斯派克新型号LAB S直读光谱仪今日安装验收投入使用，每天700多个样品！数据非常好！直读光谱仪LAB S现场照片

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火花直读光谱仪为何可以满足炉前分析？

碳硅仪和火花直读光谱仪目前市场中，火花直读光谱仪应用在炉前分析市场成为了较常规的分析手段，炉前分析有专门的碳硅仪，这两种仪器有什么区别，我们又该如何选择呢？碳硅仪铸铁冶炼过程中，曲线分析铁水中碳和硅元素的含量，没错，直接用铁水进行分析，铁水倒入钳锅后立马进行，分析时间大多是1分40秒。总而言之，它能够检测铁水中的碳硫，检测的原理是通过微处理器进行温度曲线的采集，通过铁水结晶法来测量计算碳硅成份及铁水品质，通过改进的求值方法进行工作。直读光谱仪火花直读光谱仪的优点在于全元素的分析，同时分析样品中的多种元素，十几或者几

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新：C位出道-SPECTROGREEN 等离子体发射光谱仪

德国斯派克分析仪器公司SPECTRO全新研发的垂直同步双观测（DSOI）技术为提升ICP-OES的灵敏度提供了一种全新的解决方案。采用该技术解决了等离子体观测的核心问题，灵敏度是传统垂直观测等离子体仪器的数倍，性能价格比优异。SPECTRO创新的垂直同步双观测（DSOI）方式，使用两个光学接口捕获来自垂直等离子体的发射光，使得微弱信号的检测能力大幅提升，同时又允许高浓度、重基体进样。进一步降低了记忆效应和污染风险。DSOI技术将传统垂直观测系统的灵敏度提高了数倍，避免了垂直双观测结构的复杂缺点和降低了用户使用成本。

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